DSA8200 솔루션으로 TDR 테스트 기술 20년을 뛰어넘다
DSA8200 솔루션으로
TDR 테스트 기술 20년을 뛰어넘다
최근 멀티-기가비트 직렬 표준의 등장으로 전력 예산 및 시간에 큰 부담이 생기게 되었다. 그 결과 고속 직렬 디자인에서의 손실 및 혼선 영향을 이해하기 위해서는 시간 도메인과 주파수 도메인의 신호 경로 및 인터커넥트를 정확하게 분석하는 작업이 중요하게 되었다. 새로 출시된 텍트로닉스의 DSA8200 샘플링 오실로스코프 솔루션은 기존의 VNA를 이용하여 직렬 데이터 네트워크 분석의 TDR 및 S-파라미터 측정 루틴을 설정, 실행을 할 경우 생기는 장시간을 수 분으로 단축할 수 있어 관련 업계의 관심이 집중되고 있다.
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| 테트로닉스의 브라이언 라이히 본부장 |
텍트로닉스는 직렬 데이터 네트워크 분석 애플리케이션의 신제품인 DSA8200 디지털 직렬 분석기 샘플링 오실로스코프, 새로운 원격 샘플링 전자 모듈, 개선된 아이커넥트(Iconnect) 소프트웨어를 출시한다고 발표했다.
새로 출시된 TDR(Time-Domain-Reflectometry)과 전자 모듈은 TDR 테스트의 20년 기술 역사 가운데 가장 획기적으로 성능을 개선한 제품으로 고속 직렬 데이터 표준의 까다로운 요구와 컴플라이언스 요건을 충족시키고 있다.
최근 멀티-기가비트 직렬 표준의 등장으로 전력 예산 및 시간에 큰 부담이 생기게 되었다. 그 결과 고속 직렬 디자인에서의 손실 및 혼선 영향을 이해하기 위해서는 시간 도메인과 주파수 도메인의 신호 경로 및 인터커넥트를 정확하게 분석하는 작업이 중요하게 되었다.
이러한 영향을 특성화하고 시스템의 상호 운용성을 보장하기 위해 PCI-Express, S-ATA, XAUI, 인피니밴드(Infiniband)와 같은 업계 표준에 따라 S-파라미터 및 임피던스(impedance) 측정에 대한 요구도 점점 증대하고 있다.
TDR 성능을 250% 개선하고 새로운 자동화 툴을 도입한 DSA8200은 직렬 데이터 네트워크 분석 요건을 만족하는 비용 효율적인 솔루션이며, 새로 등장하는 1Gb/s에서 12.5Gb/s의 직렬 데이터 레이트 차동 표준에 맞춰 반복적으로 정확하게 S-파라미터 측정 작업을 수행하는 가장 뛰어난 성능을 보이이고 있다.
텍트로닉스의 전자 광학 제품 라인 본부장 브라이언 라이히(Brian Reich)는 “엔지니어들은 멀티 기가비트 직렬 데이터 전송 상의 신호 경로의 영향을 정확하게 특성화시켜야 하는 도전에 직면하고 있다.”며, “DSA8200 솔루션은 이러한 엔지니어들에게 직렬 데이터 네트워크 분석 애플리케이션을 위해 시간 및 비용 효율적인 툴 셋을 제공한다.”고 설명했다.
또한 “지금까지는 전문화된 주파수 도메인 전담 장비인 벡터 네트워크 분석기(VNA, Vector Network Analyzer)가 최선의 대안이었으나 대규모의 설정 및 조정 루틴이 필요했다.”며, “새로 출시된 텍트로닉스 TDR 기반의 솔루션은 이에 비해 훨씬 저렴하며, VNA를 이용하여 직렬 데이터 네트워크 분석의 TDR 및 S-파라미터 측정 루틴을 설정 및 실행을 할 경우 생기는 장시간을 DSA8200의 메인프레임, 새로운 전자 모듈, 아이커넥트 등을 이용할 경우 수 분으로 단축할 수 있다.”고 밝혔다.
특히 더 낮은 전력, 더 높은 비트 레이트 추세를 보이는 차동 신호를 다루는 것에 있어 새로 4개의 전자 모듈은 최상의 고대역폭 및 저소음의 결합을 보여주고 있다. 이 모듈은 ±250ps의 채널 대 채널 및 모듈 대 모듈 기울기 보정, 사용자가 선택할 수 있는 대역폭, 작은 폼 팩터 원격 샘플러 등을 제공하고 있다.
또한 각 채널의 원격 샘플러가 있는 통합된 2m의 케이블로 인해 TDR 헤드가 테스트 대상 기기(DUT)에 가까이 밀착될 수 있어 프로브, 케이블, 장착물 등의 영향이 최소화 될 수 있다.
이는 측정 정확성 및 반복성을 확보하는데 가능한 최상의 시스템 충실도를 보장해 줄 수 있다. 80E10 두 채널 차동 TDR 모듈은 12ps 사건 및 15ps가 반영된 TDR 상승 시간, 50 GHz 대역폭, 성능 레벨 대비 최소 수준인 600 μVRMS 소음 등을 제공하고 있다. 또한 텍트로닉스는 차동 측정을 위한 독립된 단계 생성을 구현하기 위해 업계 최고의 규격인 통합 시스템 80E10의 TDR 성능을 20년만에 획기적으로 개선하였다.
