애질런트 디지털 측정 포럼 2008, 디지털 설계 측정의 진화를 이끈다!

지난 6월 19일 서울 센트럴시티에서 애질런트 테크놀로지스는 ‘애질런트 디지털 측정 포럼(ADMF) 2008’을 성황리에 개최했다. 소비자 가전에서 고속 디지털 설계에 이르기까지 모든 디지털 관련 측정 솔루션을 다루는 ADMF 2008은 서울을 시작으로 아시아 태평양 지역 6개국에서 6월 19일부터 7월 17일까지 개최된다.

특히 올해는 ‘디지털 설계 측정의 진화’라는 주제로 미래의 설계 및 테스트에 영향을 미치는 주요 이슈 및 경향에 중점을 두었다. DigiRF, MIPI 적합성 테스트, 수퍼 스피드 USB3.0, FPGA 설계 테스트 및 디버깅 및 자동차용 버스를 포함하는 저속 시리얼 버스 디버깅 등 각 솔루션을 전담하는 일련의 데모 부스와 함께 디지털 솔루션의 모범 사례가 발표되었다. 한편 자일링스, 매스웍스, 램버스 및 알리온의 파트너 및 협력업체들이 참석하여 자리를 빛냈다.

Kineto와 애질런트

3g/2g UMA/GAN 핸드셋 테스트 솔루션 협력

Kineto Wireless와 애질런트는 포괄적인 솔루션을 제공하기 위해 3G 및 2G UMA/GAN 핸드셋 테스트에 대해 협력한다고 발표했다. 이 업체들은 UMA/GAN 시장의 모바일 사업자, 핸드셋 벤더 및 플랫폼 개발자를 위한 완전 기능의 비 스크립팅(Non-Scripting) 테스트 솔루션을 제공하기 위해 애질런트의 8960 ‘실세계’ UMA/ GAN 테스트 기능을 확장하는데 주력할 예정이다.

첫 번째 협력 단계의 결과물은 Kineto가 캘리포니아주 밀피타스에 있는 UMA 연구소에서 선보일 견고한 3G/2G UMA/GAN 개발 및 엔지니어링 검증 툴이다. 협력의 일환으로 Kineto는 애질런트 솔루션을 사용하여 자사 고유의 클라이언트 소프트웨어를 개발 및 검증할 뿐만 아니라 Kineto의 플랫 폼 및 핸드셋 고객이 신형 UMA 지원 제품을 출시하는 것도 지원할 예정이다.
 

전자 기능 테스트를 위한

유연하고 저렴한 솔루션 제공
 

U2700A 제품군

애질런트는 전자 기능 테스트 및 문제 해결 어플리케이션을 위한 유연한 구성, 신속한 셋업 및 저렴한 가격을 제공하도록 설계된 USB 기반 계측기 제품군을 출시했다. 공간 절약 솔루션을 구현하는 다기능 폼 팩터에 소형 애질런트 U2700A 제품군은 오실로스코프, 펑션 발생기, 소스/측정 장치 및 스위치 매트릭스를 포함한다.

U2700A 제품군의 우수성은 독립형/모듈러 작동에 있다. 각 디바이스는 독립형 계측기로 사용하거나 기타 모듈과 호환 가능한 섀시에 장착할 수 있다. 모듈러 작동에서 섀시는 여러 다양한 기능(스위치 매트릭스 제외)이 지원되는 모듈에서도 마스터/슬레이브 트리거링 기능을 통해 모든 슬롯형 모듈을 동기화할 수 있다.

비선형 동작 분석을 위한

획기적인 기술 출시

애질런트는 PNA-X 마이크로파 네트워크 분석기용 비선형 벡터 네트워크 분석기(NVNA) 기능을 발표하여 10MHz~26.5GHz의 RF 비선형 네트워크 분석의 새로운 업계 표준을 수립했다. NVNA 기능은 표준 PNA-X 마이크로파 네트워크 분석기에 기반하며 따라서 선형 측정을 위해 PNA-X의 모든 성능, 유연성 및 측정 기능을 제공한다. 이 기능은 비선형 측정용 NVNA 모드로 쉽게 전환할 수 있다.

최소 외부 하드웨어를 필요로 하는 애질런트 NVNA 소프트웨어는 4포트 PNA-X를 고성능 비선형 분석기로 효과적으로 변환한다. 비선형 부품 특성분석, X-파라미터라고 하는 새로운 비선형 산란 파라미터, 그리고 비선형 펄스 포락선 도메인 기능을 지원하는 이 소프트웨어는 액티브 RF 부품을 연구하고 설계하는 R&D 엔지니어 및 과학자에게 이상적이다.