로제트센서 - 스트레인 게이지

Micro-Measurements^?

가혹한 환경에서도 일관되고 안정적인 응력 분석에 대한 개발 필요성을 충족시키기 위해 제작된 초소형 적층형 로제트 센서 G1350 C2K 시리즈 스트레인 게이지를 출시했다. G1350은 가전 제품의 중요한 위치에서 PCB 표면 변형을 감지하도록 설계됐다. 소형 스트레인게이지는 특히 120 ohms과 350 ohms의 작은 크기와 높은 저항으로부터 측정값을 얻을 수 있는 애플리케이션에서 유리하다.

G1350은 SHM(Structural Health Monitoring), IIoT, 자율차량, 계측 및 제어, 기계 및 장비, 모션제어, 산업 4.0, 로봇공학, 스마트도시, 스마트제조, 스마트인프라, 웨어러블(wearable) 전자 제품 및 무선 애플리케이션에 이상적이다.

기존의 마이크로 측정 게이지와 동일한 엄격한 표준규격을 사용해 설계된 새로운 C2K시리즈 스트레인게이지 제품군은, 소형화된 게이지패턴에서 높은 저항을 허용하는 첨단 기술 제조 프로세스를 기반으로 했다. 단축선형적층형 로제트 C2K-06-G1350-350(uniaxial linear stacked rosette)은 표면실장형부품(surface-mount component)에 스팟-온 (spot-on) 설치가 가능하도록 0.040의 그리드 길이와 0.20 직경의 전체 매트릭스를 특징으로 한다. 사전 부착 된 도체 케이블은 본딩 후에 별도로 납땜할 필요가 없으므로 설치 과정을 쉽고 빠르게 할 수 있도록 제작됐다.

소형 가전 제품은 부품 밀도가 높아지고 열 응력이 증가하며 반복되는 하중을 견디기 위한 새로운 요구 사항이 생기고, 충격 응력 생존에 대한 요구가 커진다. 이러한 요구 사항을 충족시키기 위해서는 PCB 및 온보드 부품의 변형에 대한 정확한 지식이 필요하다. PCB의 변형을 탐지하는 가장 정확하고 신속한 방법은 스트레인 게이지 측정을 통해 로딩 픽스처(loading fixture) 및 테스트를 최적화하는 데 사용하는 것이다.

새로운 스트레인 게이지는 Modified Karma 또는 K-alloy (C2K)와 그리드 캡슐화를 위한 에폭시 오버 코트를 특징으로 한다. G1350의 2세대는 PCB 테스트를 위한 스트레인 게이지 합금 제품군에 핵심적인 역할을 하는 K- 합금을 기반으로 한다.

강한 피로 수명과 뛰어난 안정성으로 분류된 K-합금 스트레인 게이지는 최고 +150°F(+66 ° C)의 높은 온도에 노출될 수 있다. 불활성 분위기는 안정성을 강화시키고 고온에서 유용한 게이지 수명을 연장시킨다. 다른 장점들 중 K 합금은 A 합금보다 훨씬 평탄한 열 출력 곡선을 제공해, 극단적인 온도에서 열출력 부정확성을 보다 정확하게 교정할 수 있다. Constantan과 같이 K 합금은 서로 다른 열팽창 계수를 가진 재료에 사용하기 위해 자체 온도보상이 가능하다. K- 합금 온도 보상게이지는 A-합금 게이지에서 달성할 수 없는 환경적 성능 과 특성을 지니고 있다.

전자산업의 표준에 따라 PCA는 설계가 전자장치의 제조, 포장, 운송 및 일상적인 사용의 엄격함을 견딜 수 있는지 판단하기 위해 테스트를 받아야 한다. 스트레인 게이지가 인쇄회로조립 시험에 사용되는 과정의 몇 가지 방법은 적절한 표면 처리 재료를 준비하고, 접착제를 선택하며 환경조건에 맞지 않는 보호 코팅을 선택하고, 측정장비를 선택하는 것이다.

자료 제공 : Micro-Measurements (www.vishaypg.com/Micro-Measurements)