반도체 및 테스트에 최적화된 PXI 모듈
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내쇼날인스트루먼트는 새로운 PPMU(Per-Pin Parametric Measurement Unit) 모듈과 소스 측정 유닛(SMU) 모듈의 출시를 통해 반도체 특성화 및 생산 테스트를 위한 PXI 플랫폼의 기능을 확장했다. NI PXIe-6556 200 MHz 고속 디지털 I/O(PPMU)와 NI PXIe-4140 및 NI PXIe-4141 4-채널 SMU는 장비 투자 비용과 테스트 시간은 줄이고 테스트 중인 여러 디바이스에 대한 혼합 신호 측정 유연성은 증가시켰다.
NI PXIe-6556 고속 디지털 I/O 모듈을 이용하면 최고 200MHz로 디지털 웨이브폼을 생성하고 수집할 수 있거나 1%의 정확도로 동일한 핀에서 DC 파라미터 측정을 수행하여 케이블 연결을 단순화하고 테스트 시간은 줄이며 테스트 장비의 밀도는 높여준다.
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