반사항 와이드 레이저 빔 사용 2차원 형상 계측 센서 ZG 시리즈
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이 제품은 고속 결함 검사를 통해 연속 샘플링을 통해 고속으로 수행해야 하는 공정에 대응할 수 있으며, 입력에서 출력까지 모두 디지털로 처리되어 기존 마이콘을 사용한 형상 프로파일 데이터 생성 및 계측 기능을 신개발된 LSI(PI-Express) 1개의 칩으로 구현하여 처리속도를 높이고 공간 절약을 할 수 있다.
고정밀 형상 계측을 통해서는 계측 대상의 형상을 완벽히 배현하며, 매우 정밀하게 계측할 수 있다. 일반적으로 복잡한 형상에 레이저 빛을 비추면 비스듬하게 닿는 부분의 빛이 잘 반사되지 않기 때문에 프로파일의 일부가 누락되어 형상을 재현할 수 없게 되지만, ZG는 멀티 감도 기능으로 최적의 감도를 찾아내어 향상 프로파일화를 실현할 수 있다.
또한 설치 장소에 구애받지 않는 이 제품은 설치 제약 때문에 투과 배치할 수 없는 경우나 투과형으로 작업하기 어려운 휘어진 판의 단면을 계측할 때도 반사항 와이드 빔을 사용하여 안정적 계측을 할 수 있다.
㈜콘트론
Tel. 02-3218-5700
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