NI, 새로운 다중 채널 혼합 신호 계측기 발표

지난 7월 NI가 단일 슬롯에서 최대 2개 채널과 80MHz의 아날로그 대역폭을 갖추고 있는 새로운 PXI 임의 웨이브폼 생성기 제품군과 함께 NI의 PXI 고밀도 소프트웨어 설계 계측기에 기반을 두고 있는 최신 100 MHz, 8-채널 오실로스코프를 출시했다고 발표했다.

엔지니어는 이와 같은 NI의 신제품을 통해 고성능 신호를 생성할 뿐만 아니라 복합 웨이브폼을 측정할 수 있다. 새로운 PXIe-5413, PXIe-5423, PXIe-5433 임의 웨이브폼 생성기는 사용자에게-92 dB의 SFDR(Spurious-Free Dynamic Range)과 435fs의 통합 시스템 지터를 지원하며, 전용 표준 웨이브폼 생성 엔진과 함께 사용할 경우 정밀한 웨이브폼 조정 기능을 지원한다. 이 제품들은 임의 웨이브폼 생성을 위한 새로운 분수 리샘플링 아키텍처를 갖추고 있어 사용자 샘플링 속도와 상관없이 유사한 다이나믹 범위와 지터 성능을 얻을 수 있다. 이 때문에 사용자는 고속 웨이브폼 스트리밍 기능과 함께 PXI와 동일한 다중 계측기 동기화를 활용할 수 있다.

최신 PXIe-5172 오실로스코프에는 사용자 프로그래머블 FPGA가 포함되어 있는데, 엔지니어는 LabVIEW를 활용해 인라인 신호 처리나 고급 트리거링 추가와 같은 오실로스코프의 펌웨어를 정의할 수 있다. NI의 자동화 테스트 제품 마케팅 디렉터인 Luke Schreier(루크 슈라이어)는 “테스트 엔지니어는 비용, 복잡도, 출시 시간 요건을 충족시키는 적절한 가격과 채널 카운트를 갖춘 높은 기술을 요구한다”라며, “새로운 임의 웨이브폼 생성기 제품군은 간편하게 기술을 삽입하기 위한 NI-FGEN 드라이버로 소프트웨어 연속성을 제공하며, 최신 오실로스코프는 다양한 애플리케이션에 맞게 기능을 조정할 수 있는 사용자 프로그래머블 FPGA를 갖추고 있다.

NI는 실험실과 생산 환경 모두에서 자동화 테스트를 위한 PXI의 소프트웨어 중심 및 표준화된 하드웨어 접근 방식을 통해 지속적인 혁신과 입증된 측정 기술의 균형을 유지하는 유연성을 제공할 수 있다”고 말했다. PXI 임의 웨이브폼 생성기와 오실로스코프는 엔지니어의 보다 스마트한 테스트 시스템 구축을 위해 활용될 수 있기 때문에 NI 플랫폼과 에코시스템에서 매우 중요한 역할을 한다. 이 같은 테스트 시스템은 DC부터 mmWave에 이르는 600개 이상의 NI PXI 제품에 기반을 두고 구축되며, PCI Express 버스 인터페이스는 물론 타이밍 및 트리거링이 통합된 ns 미만의 동기화를 통해 높은 스루풋의 데이터 이동 속도를 구현한다.