안리쓰 코퍼레이션, BERT와 샘플링 오실로스코프가 있는 ‘100G BERTWave Series’ 출시

지난 2월 안리쓰 코퍼레이션이 100-Gbit/s 멀티 채널 광 모듈 검사를 위한 새로운 BERTWave MP2110A Series를 출시했다고 밝혔다. 최근 데이터 트래픽 양이 폭발적으로 증가하면서 데이터 센터 시스템의 처리 능력을 향상시키는 동시에 증가하는 비용을 관리할 수 있는 솔루션이 요구되고 있는데, 이를 위한 한 가지 해결책으로 데이터 센터에 활용되는 광 모듈의 비트율을 10G에서 25G로 높이면서 비용을 낮추는 것이 꼽히고 있다. 이 같은 요구를 충족시키기 위해 안리쓰는 BERT(Bit Error Rate Tester)가 내장된 All-in-one BERTWave MP2110A를 최대 4채널까지, 샘플링 오실로스코프를 최대 2채널까지 출시해 사용자가 QSFP28과 같이 100GbE 표준에서 사용되는 다중 채널 광 모듈을 효율적으로 평가할 수 있도록 지원하게 되었다.

새로 출시된 BERTWave MP2110A는 동시 BER 측정 및 아이 패턴 분석에 쓰이는 All-In-One 테스터로, 사용자는 BER을 측정하고 아이 패턴을 분석하기 위해 두 개의 별도 계측기를 활용해야 했던 이전과는 달리 하나의 MP2110A만으로도 측정을 수행할 수 있다. 이 같은 MP2110A는 내장된 BERT를 최대 28.2Gbit/s를 통해 4채널로 확장하고, 내장 샘플링 오실로스코프를 2채널로 확장시키는 옵션을 사용자에게 제공한다. 안리쓰는 MP2110A의 광 모듈 및 광 부품 생산 라인의 택트 타임을 단축시키기 위해 최대 샘플링 속도를 250ksample/s로 향상시켰으며, Eye Mask 테스트 등의 아이 패턴 분석 시간을 75% 단축시켰다.

위와 같은 새로운 특성들로 인해 MP2110A는 결과적으로 QSFP28과 같은 다중 채널 광 모듈과 동시 2채널 아이 패턴 분석을 동시에 TRx BER로 측정할 수 있게 되었으며, 이전 측정 시스템과 비교해 측정 시간을 최대 65%까지 단축시킬 수 있다. 한편, MP2110A가 갖추고 있는 샘플링 오실로스코프 광 인터페이스는 최소 감도-11.5dBm(최대)에서 스위치 등으로 감쇄된 신호의 정확한 아이 패턴을 분석한다.