한국내쇼날인스트루먼트, 세미콘 코리아 2017 참가

엔지니어 및 과학자들에게 엔지니어링 문제를 해결할 수 있는 플랫폼 기반 솔루션을 제공하는 NI의 한국 지사인 한국 NI가 2월에 열린 ‘세미콘 코리아 2017’에 참가해 반도체 테스트 통합 솔루션과 데모를 선보였다. 한국NI는 전시회에서 반도체 테스트 비용과 시간을 단축시키는 동시에 높은 수준의 측정 정확성을 확보할 수 있는 최신 솔루션들을 선보였다. 전시회에서 공개된 NI STS(Semiconductor Test System)는 반도체 양산 환경에서 활용 가능한 솔루션으로, 기존의 대형 ATE보다 작은 작업 공간에서 활용 가능하며, 전력 소모량과 유지보수에 드는 사용자의 노력을 줄여준다. 또한 NI STS는 고성능 테스트가 가능하기 때문에 보다 복잡한 기능이 요구되는 RF 파워 앰프, 전력 관리 IC와 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 적합하다. 또 다른 솔루션이었던 NI WTS(Wireless Test System)는 IoT 디바이스의 다양한 무선 통신 규격을 동시에 테스트할 수 있으며, PXI 기반 자동화 테스트 솔루션은 효율을 극대화시킨다.

이와 같은 솔루션 외에도 한국NI는 NI의 그래픽 기반 시스템 디자인 소프트웨어인 LabVIEW와 R&D와 양산에 적용 가능한 ATE급 벡터 솔루션, All-In-One 계측기인 VirtualBench, 휴대용 데이터 측정 플랫폼, 다채널 오픈쇼트 테스트 등의 데모를 선보였다. 한국NI의 반도체 테스트 솔루션 담당 권순묵 대리는 “이번 행사에서 NI는 LabVIEW와 PXI 기반의 모듈형 계측기를 이용해 R&D부터 양산까지 모든 테스트 과정에 동일하게 적용 가능한 테스트 자동화 솔루션을 선보이며, 아울러 반도체 전 공정 장비에 적용되는 임베디드 컨트롤/측정 솔루션도 소개한다”라고 말한 후, “고객들이 테스트 및 측정 산업의 글로벌 리더인 NI의 최신 반도체 테스트 장비들을 체험하면서 NI의 기술력을 직접 확인하고 폭넓게 활용할 수 있기를 바란다”고 밝혔다.